C помощью сканирующего зондового микроскопа SPM-9700HT можно:
- получать трехмерное изображение рельефа поверхности образцов металлов, полупроводников, керамики, макромолекул и биологических объектов с увеличением в несколько тысяч или миллионов раз.
- измерять значения следующих физических свойств поверхности с пространственным разрешением в доли нанометра:
- механических (силу трения, адгезию, жесткость, эластичность)
- электрических (потенциал, проводимость)
- магнитных (распределение намагниченности).
Может использоваться в материаловедении, полупроводниковой промышленности, биологии, медицине, при физи-ческих и химических исследованиях.
Стандартные режимы работы сканирующего микроскопа:
- Контактный режим
- Режим латеральных сил
- Динамический режим
- Фазовый режим
- Режим силовой модуляции
- Силовая кривая
Опциональные режимы работы микроскопа SPM-9700HT:
- Режим проводимости
- Режим поверхностного потенциала (кельвин-микроскопия)
- Магнитно-силовой режим (магнитно-силовая микроскопия)
- Силовое картирование
- Режим векторного сканирования
- Режим сканирования в слое жидкости
- Электрохимическая атомно-силовая микроскопия
Опции для расширения возможностей SPM-9700HT:
- Оптический микроскоп с цифровой камерой
- Волоконно-оптический осветитель
- Блоки широко/узко-форматного и глубинного сканирования
- Климатическая камера с нагревателем образцов, контролем температуры, влажности и газового состава атмосферы
- Программа анализа распределения частиц по размерам
Механизм скольжения головки
Высокая стабильность & Высокая производительность
Позволяет всей оптической системе скользить как единое целое, сохраняя ее жесткость.
- Лазер остается стабильным и освещает кантилевер даже во время замены образцов.
- Конструкция устойчива к вибрациям, шуму, ветру и другим внешним возмущениям, так что нет необходимости в специальном кожухе.
- Прибор включает встроенный поглотитель вибраций.
Сравнение стабильности для различного лазерного освещения:
Удачное решение открывает доступ к области вокруг образца при поддержании высокой жесткости всей системы
- Можно заменять образцы без удаления держателя кантилевера.
- К образцам есть доступ даже во время измерения.
- Высота образца настраивается автоматически, независимо от его толщины.
Разнообразие методов визуализации 3D изображения
1. Используйте мышь для изменения масштаба и свободного вращения изображений или изменения увеличения по оси Z. Это позволяет представлять полученные данные различными способами, подтверждая эти данные в режиме реального времени.
2. Функция текстуры
Информация о высоте может быть наложена на информацию о физических свойствах. Это позволяет ясно показать соотношения между двумя параметрами.
3. Анализ профилей поперечного сечения
В 3D изображениях можно анализировать профили сечения. Если информация о физических свойствах выражена в терминах текстуры, соответствующие профили сечения могут быть показаны и проанализированы в том же месте.
Легкость выполнения операций
Революционный графический пользовательский интерфейс обеспечивает неограниченную поддержку операций, начи-ная от наблюдения в режиме реального времени до анализа данных в автономном режиме.
Дополнительные возможности
WET-SPM
WET-SPM = SPM-9700HT + климатическая камера
При добавлении климатической камеры сканирующий зондовый микроскоп SPM-9700HT превращается в систему WET-SPM.
Программное обеспечение для исследования частиц
Технические характеристики
|