В наличии!
Предлагаем со склада в Алматы (ссылки):
|
Многофункциональный рентгеновский дифрактометр
Многофункциональный рентгеновский дифрактометр ДРОН-7М
|
|
Рентгеновский дифрактометр ДРОН-7М способен решать широкий круг задач порошко-вой дифрактометрии. Независимое управление 2θ и θ поворотами позволяет применять аппарат к исследованию монокристаллов.
Модификация ДРОН-7М полностью освобождена от радиационного контроля.
|
|
|
|
Чертеж габаритный |
Чертеж установочный |
Схема |
|
Технические характеристики
|
|
Гониометр |
Тип |
Горизонтальный 2θ-θ |
Рентгенооптическая схема |
Брэгга-Брентано/Дебая-Шеррера/параллельно-лучевая |
Радиус R, мм |
200 |
Диапазоны углов, град |
2θ |
от -100 до 165 |
|
θ |
от -180 до 180 |
Режимы сканирования |
пошаговый/непрерывный |
Методы сканирования |
θ-2θ, 2θ, θ, 2θ-Ω |
Минимальный шаг сканирования, град |
0.001 |
Скорость сканирования, град/мин |
от 0.1 до 50 |
Воспроизводимость, град |
±0.0025 |
Транспортная скорость, град/мин |
720 |
Система регистрации (базовая): |
Тип детектора |
сцинтилляционный NaI (Tl) |
Скорость счета, имп/с |
до 500 000 |
Высоковольтный источник питания:
|
Мощность, кВт |
3 |
Напряжение, кВ |
0-60 |
Ток, мА |
0-80 |
Стабильность анодного тока и напряжения, % |
0,01 |
Охлаждение |
воздушное |
Рентгеновская трубка (базовая):
|
Тип |
2,5БСВ-27Cu |
Размер фокуса, мм |
10 х 1.6 |
Охлаждение |
водяное (3 л/мин) |
Эксплуатационные характеристики
|
Установочная площадь, м2 |
5 |
Потребляемая мощность, кВА |
5,5 |
Масса, кг |
470 |
Питание, B/Гц |
однофазное 220/50 |
Габаритные размеры (Д х Ш х В), мм |
1050 х 1100 х 1800 |
Область применения
- Нефтехимия
- Экология
- Горнодобывающая промышленность
- Металлургия
- Диагностика и контроль
- Геология
- Экспертиза
- Строительство
- Научные исследования
Дополнительные опции
|
|
Держатели образцов, приставки и камеры
|
|
Держатель монолитных образцов. Предназначен для установки образцов толщиной до 10 мм и длиной до 100 мм. |
|
Держатель цилиндрических образцов (капилляров) диаметром 0,1-1,0 мм. Предназначен для измерений в геометрии Дебая-Шеррера. |
|
Приставка ПГТМ Приставка для анализа текстур и макронапряжений в поликристаллических образцах и для экспрессного определения ориентации небольших монокристаллов диаметром до 28 мм. Обеспечивает два независимых программно-управляемых перемещения образца:
- поворот (вращение) вокруг оси φ - от 0 до 360°,
- наклон по оси χ - от 3 до +70°
В составе дифрактометра позволяет проводить сбор данных методом поворота Ω–φ и ме-тодом наклона χ–φ, а также сочетать сбор данных методом наклона χ–φ при фиксированном угле дифракции 2θ с методом 2θ–θ при фиксированном положении приводов (χ,φ) приставки. Это дает возможность определять ориентацию монокристалла, выводить в отражающее положение конкретный брэгговский рефлекс по измеренным координатам (χ,φ) и проводить 2θ–θ сканирование этого рефлекса для определения межплоскостного расстояния в данном направлении. |
|
Высокотемпературные камеры (до 1200°С ) Для in situ исследований фазовых превращений и химических реакций при изменении внешних условий.
|
|
Автосменщик образцов на 6 позиций Для потокового измерения порошковых или монолитных образцов (диаметром до 28 мм) на дифрактометре. |
Системы регистрации
|
|
Система регистрации рентгеновского излучения на основе линейного позиционно-чувствительного стрипового детектора. Система обеспечивает быстродействие аппарата в 100 раз больше, чем с точечным де-тектором (несколько минут вместо нескольких часов измерений для получения хорошей статистики данных). В систему также входит коллимационная система на дифрагированном пучке и ловушка первичного пучка для обеспечения измерений на ближних углах (с 3 град.). Особенно эффективно использовать СБР для плохо окристаллизованных, быстро разлагающихся объектов или при малых количествах вещества. Незаменима при in situ исследованиях химических реакций и фазовых превращений в сочетании с высоко-и низкотемпературными приставками и при сборе данных для анализа остаточных напряжений. |
Рентгенооптические элементы
|
|
Универсальный держатель монохроматора на падающем пучке. |
|
Универсальный держатель монохроматора на дифрагированном пучке. |
|
Кристаллы-монохроматоры различных типов (плоские, асимметричные, изогнутые, прорезные) и из различных материалов. |
|
Одномерное параболическое зеркало для перехода в параллельно-лучевую геометрию. |
Другие опции
|
|
Автономная система охлаждения рефрижераторного типа (типа воздух-вода). Обеспечивает охлаждение рентгеновской трубки дистиллированной водой по замкнутому контуру, поддерживает температуру воды с точностью 0,1 град. |
|
Рентгеновские трубки типа БСВ27, БСВ28, БСВ29 с указанным материалом анода (Ag, Mo, Cu, Co, Fe, Cr) |
|
Щели Соллера С расходимостью от 1.5 до 4 градусов для коллимации дифрагированного пучка при уста-новке точечного или позиционно-чувствительного детектора. |
|
Бета-фильтры Для монохроматизации различных излучений при установке точечного или позиционно-чувствительного детектора. |
Программное обеспечение |
|
Предварительная обработка DrWin
- Обработка всей дифрактограммы либо выделенного фрагмента
- Аппроксимация фона (полиномом либо пользовательской кривой)
- Разделение K-дуплетов
- Определение угловых положений
- Апроксимация профилей рефлексов функции псевдо-Войта (для всего массива либо индивидуально для каждого пика)
- Расчет линейных и интегральных интенсивностей рефлексов
- Расчет ПШПВ рефлексов
|
|
Количественный анализ Quan
- Полный анализ многофазной смеси
- Анализ n-компонентной системы
- Анализ образца с известным массовым коэффициентом поглощения
- Метод внутреннего стандарта
- Метод корундовых чисел
- Метод добавок
- Метод разбавления
|
|
Расчет областей когерентного рассеяния и микродеформаций Size&Strain
- Определение размеров кристаллитов и микродеформаций по методу моментов
- Расчет инструментального фактора
- Учет поглощения при использовании эталона другого состава
|
|
Расчет теоретической дифрактограммы TheorPattern
- Моделирование дифрактограмм многофазных смесей по структурным данным
- Учет инструментального фактора
- Учет текстуры и размеров кристаллитов индивидуально для каждой фазы
- Сравнение модельной дифрактограммы с экспериментальной
- Встроенный пакет математической кристаллографии
|
|
|
Автоиндицирование Ind
- Определение типа решетки Браве
- Выбор элементарной ячейки
- Расчет индексов дифракционных отражений
- Визуализация результатов в виде штрих-диаграммы
|
|
Метод Ритвельда Rietveld
- Уточнение структуры однофазного/многофазного поликристаллического образца
- Расчет полиномиального и физического фона
- Уточнение индивидуальных коэффициентов U, V, W, X, Y для разных фаз и типов рефлексов
- Уточнение параметров элементарной ячейки, атомных и тепловых параметров, заселенностей атомных позиций для каждой фазы
- Выбор стратегии уточнения
- Управление условиями уточнения
- Расчет пяти R-факторов
|
|
Расчет макронапряжений MacroStress
- Расчет углового положения максимума по центру тяжести или по вершине пика
- Нахождение матрицы поправок
- Вычисление линейных, плоских и объемных макронапряжений
- Расчет погрешностей напряжений
|
|
Терморентгенография Thermo
- 3D-визуализация измеренных данных в координатах «угол дифракции – интенсивность – температура»
- Калибровка всего массива экспериментальных данных по внутреннему или внешнему стандарту
- Уточнение параметров элементарной ячейки по всему массиву откалиброванных данных
- Определение точек фазовых переходов
- Определение коэффициентов теплового расширения (КТР) в различных направлениях и тензоров термических деформаций
- Построение фигур КТР
|
|
|
Качественный анализ и работа с базой порошковых данных Retrieve and Search-Match
- Использование для качественного анализа базы порошковых данных PDF-2/PDF-4 Международного центра дифракционных данных (ICDD)
- Автоматический или ручной алгоритм поиска<
- Возможность создания пользовательских подбаз для упрощения поиска
- Возможность добавления собственных стандартов в подбазы
- Проведение качественного фазового анализа по различным критериям, базам (подбазам)
- Анализ совпавших линий по положению и интенсивности
- Расчет концентраций компонентов по методу корундовых чисел
- Доступ к базе данных, в том числе поиск по выбранным критериям
|
Многофункциональный рентгеновский дифрактометр ДРОН-8
|
|
Многофункциональный рентгеновский дифрактометр ДРОН-8 с вертикальным тета-тета гониометром и горизонтальным положением образца позволяет проводить рентгенодифракционный анализ фазового состава, структурного состояния и ориентации широкого круга объектов различной формы и размера.
Аппарат ДРОН-8 имеет более высокие технические и эксплуатационные характеристики по сравнению с выпускающейся сейчас моделью ДРОН-7. Гониометр имеет переменный радиус (180-250 мм), воспроизводимость углового положения не превышает 0.001 град., , предусмотрена автоматическая юстировка плоскости образца; реализовано шесть алгоритмов независимых и синхронных перемещений трубки и детектора, что покрывает все известные методы рентгенодифракционного анализа. В число опций, которые возможны для аппарата ДРОН-7, добавлен четырехосный держатель больших образцов (xy-сканирование, z-перемещение, φ-поворот), что позволит исследовать крупногабаритные объекты различной формы (пластины, монокристаллы и другие нестандартные образцы) как для анализа их фазового состава и структурного состояния, так и для контроля ориентировки их поверхности по отношению к кристаллографическим осям.
Серийное производство дифрактометров ДРОН-8 начато в 2010 году.
|
|
|
|
Чертеж габаритный |
Чертеж установочный |
Схема |
|
Технические характеристики
|
|
Гониометр
|
Тип |
вертикальный θ-θ |
Рентгенооптическая схема |
Брэгга-Брентано/Дебая-Шеррера/параллельно-лучевая |
Радиус R, мм |
180-250 |
Диапазоны углов, град |
2θ |
от -10 до 165 (до 169 при R=200 мм) |
|
θD |
от -5 до 165 |
|
θF |
от -5 до 95 |
Режимы сканирования |
пошаговый/непрерывный |
Методы сканирования |
θ-θ, θ, Ω, 2θ-Ω, Ψ, sin2Ψ |
Минимальный шаг сканирования, град |
0.0005 |
Скорость сканирования, град/мин |
от 0.1 до 50 |
Воспроизводимость, град |
±0.001 |
Транспортная скорость, град/мин |
600 |
Система регистрации (базовая):
|
Тип детектора |
сцинтилляционный NaI (Tl) |
Скорость счета, имп/с |
до 500 000 |
Высоковольтный источник питания:
|
Мощность, кВт |
3 |
Напряжение, кВ |
0-60 |
Ток, мА |
0-80 |
Стабильность анодного тока и напряжения, % |
0,01 |
Охлаждение |
воздушное |
Рентгеновская трубка (базовая):
|
Тип |
2,5БСВ-27Cu |
Размер фокуса, мм |
10 х 1.6 |
Охлаждение |
водяное (3 л/мин) |
Эксплуатационные характеристики
|
Установочная площадь, м2 |
5 |
Потребляемая мощность, кВА |
5,5 |
Масса, кг |
750 |
Питание, B/Гц |
однофазное 220/50 |
Габаритные размеры (Д х Ш х В), мм |
1350 х 1200 х 2250 |
Область применения
- Нефтехимия
- Экология
- Горнодобывающая промышленность
- Металлургия
- Диагностика и контроль
- Геология
- Экспертиза
- Строительство
- Научные исследования
Дополнительные опции
|
|
Держатели образцов, приставки и камеры
|
|
Четырехосный xyzφ держатель больших образцов. Используется для анализа фазового состава и структурных характеристик крупногабарит-ных объектов различной формы и размера, в том числе при сканировании по поверхности, а также для определения ориентации монокристаллов, анализа текстур и остаточных напряжений в режимах Ω, Ω-φ, 2Θ-Ω, ψ и sin2ψ. Позволяет проводить измерения образцов весом до 50 кг, диаметром до 300 мм и высо-той до 250 мм. Автоматическая юстировка плоскости образца по датчику положения в пределах ±20 мм с точностью 5 мкм. Точность φ-поворота 0,001 град. xy-перемещение по плоскости образца в пределах ±50 мм с дискретностью 0.1 мм. Можно устанавливать стандартную кювету с порошком при необходимости. |
|
Приставка ПГТМ Приставка для анализа текстур и макронапряжений в поликристаллических образцах и для экспрессного определения ориентации небольших монокристаллов диаметром до 28 мм. Обеспечивает два независимых программно-управляемых перемещения образца:
- поворот (вращение) вокруг оси φ - от 0 до 360°,
- наклон по оси χ - от 3 до +70°
В составе дифрактометра позволяет проводить сбор данных методом поворота Ω–φ и ме-тодом наклона χ–φ, а также сочетать сбор данных методом наклона χ–φ при фиксированном угле дифракции 2θ с методом 2θ–θ при фиксированном положении приводов (χ,φ) приставки. Это дает возможность определять ориентацию монокристалла, выводить в отражающее положение конкретный брэгговский рефлекс по измеренным координатам (χ,φ) и проводить 2θ–θ сканирование этого рефлекса для определения межплоскостного расстояния в данном направлении. |
|
Высокотемпературные камеры (до 1200, 1600, 2000 и 2300°С ) Для in situ исследований фазовых превращений и химических реакций при изменении внешних условий.
|
|
Вакуумная система Вакуумная система является дополнительным устройством для высокотемпературной ка-меры и имеет в комплекте два вакуумных насоса: роторный и турбомолекулярный для создания высокого (<8x10-9 мбар) и низкого (<2x10-3 мбар) вакуума внутри высокотемпературной камеры.
|
|
Автосменщик образцов на 6 позиций Для потокового измерения порошковых или монолитных образцов (диаметром до 28 мм) на дифрактометре. |
Системы регистрации
|
|
Система регистрации рентгеновского излучения на основе линейного позиционно-чувствительного стрипового детектора. Система обеспечивает быстродействие аппарата в 100 раз больше, чем с точечным де-тектором (несколько минут вместо нескольких часов измерений для получения хорошей статистики данных). В систему также входит коллимационная система на дифрагированном пучке и ловушка первичного пучка для обеспечения измерений на ближних углах (с 3 град.). Особенно эффективно использовать СБР для плохо окристаллизованных, быстро разлагающихся объектов или при малых количествах вещества. Незаменима при in situ исследованиях химических реакций и фазовых превращений в сочетании с высоко-и низкотемпературными приставками и при сборе данных для анализа остаточных напряжений. |
Рентгенооптические элементы
|
|
Универсальный держатель монохроматора на падающем пучке. |
|
Универсальный держатель монохроматора на дифрагированном пучке. |
|
Кристаллы-монохроматоры различных типов (плоские, асимметричные, изогнутые, прорезные) и из различных материалов. |
|
Одномерное параболическое зеркало для перехода в параллельно-лучевую геометрию. |
|
Монохроматор Бартельса (четырехкратный прорезной Ge 220) На первичном пучке, позволяет получать монохроматическую Kα1 линию с угловым раз-решением не более 6 угл.сек. Применяется для перехода в геометрию высокого разрешения. |
|
Монохроматор прорезной С переменной кратностью (от 1 до 5) устанавливается на первичном пучке, позволяет по-лучать монохроматическую Kα или Kα1 линию. Применяется для малоугловых исследований и рефлексометрии. |
Другие опции
|
|
Автономная система охлаждения рефрижераторного типа (типа воздух-вода). Обеспечивает охлаждение рентгеновской трубки дистиллированной водой по замкнутому контуру, поддерживает температуру воды с точностью 0,1 град. |
|
Рентгеновские трубки типа БСВ27, БСВ28, БСВ29 с указанным материалом анода (Ag, Mo, Cu, Co, Fe, Cr) |
|
Щели Соллера С расходимостью от 1.5 до 4 градусов для коллимации дифрагированного пучка при уста-новке точечного или позиционно-чувствительного детектора. |
|
Бета-фильтры Для монохроматизации различных излучений при установке точечного или позиционно-чувствительного детектора.
|
Программное обеспечение |
|
Предварительная обработка DrWin
- Обработка всей дифрактограммы либо выделенного фрагмента
- Аппроксимация фона (полиномом либо пользовательской кривой)
- Разделение K-дуплетов
- Определение угловых положений
- Апроксимация профилей рефлексов функции псевдо-Войта (для всего массива либо индивидуально для каждого пика)
- Расчет линейных и интегральных интенсивностей рефлексов
- Расчет ПШПВ рефлексов
|
|
Количественный анализ Quan
- Полный анализ многофазной смеси
- Анализ n-компонентной системы
- Анализ образца с известным массовым коэффициентом поглощения
- Метод внутреннего стандарта
- Метод корундовых чисел
- Метод добавок
- Метод разбавления
|
|
Расчет областей когерентного рассеяния и микродеформаций Size&Strain
- Определение размеров кристаллитов и микродеформаций по методу моментов
- Расчет инструментального фактора
- Учет поглощения при использовании эталона другого состава
|
|
Расчет теоретической дифрактограммы TheorPattern
- Моделирование дифрактограмм многофазных смесей по структурным данным
- Учет инструментального фактора
- Учет текстуры и размеров кристаллитов индивидуально для каждой фазы
- Сравнение модельной дифрактограммы с экспериментальной
- Встроенный пакет математической кристаллографии
|
|
|
Автоиндицирование Ind
- Определение типа решетки Браве
- Выбор элементарной ячейки
- Расчет индексов дифракционных отражений
- Визуализация результатов в виде штрих-диаграммы
|
|
Метод Ритвельда Rietveld
- Уточнение структуры однофазного/многофазного поликристаллического образца
- Расчет полиномиального и физического фона
- Уточнение индивидуальных коэффициентов U, V, W, X, Y для разных фаз и типов рефлексов
- Уточнение параметров элементарной ячейки, атомных и тепловых параметров, заселенностей атомных позиций для каждой фазы
- Выбор стратегии уточнения
- Управление условиями уточнения
- Расчет пяти R-факторов
|
|
Расчет макронапряжений MacroStress
- Расчет углового положения максимума по центру тяжести или по вершине пика
- Нахождение матрицы поправок
- Вычисление линейных, плоских и объемных макронапряжений
- Расчет погрешностей напряжений
|
|
Терморентгенография Thermo
- 3D-визуализация измеренных данных в координатах «угол дифракции – интенсивность – температура»
- Калибровка всего массива экспериментальных данных по внутреннему или внешнему стандарту
- Уточнение параметров элементарной ячейки по всему массиву откалиброванных данных
- Определение точек фазовых переходов
- Определение коэффициентов теплового расширения (КТР) в различных направлениях и тензоров термических деформаций
- Построение фигур КТР
|
|
|
Качественный анализ и работа с базой порошковых данных Retrieve and Search-Match
- Использование для качественного анализа базы порошковых данных PDF-2/PDF-4 Международного центра дифракционных данных (ICDD)
- Автоматический или ручной алгоритм поиска<
- Возможность создания пользовательских подбаз для упрощения поиска
- Возможность добавления собственных стандартов в подбазы
- Проведение качественного фазового анализа по различным критериям, базам (подбазам)
- Анализ совпавших линий по положению и интенсивности
- Расчет концентраций компонентов по методу корундовых чисел
- Доступ к базе данных, в том числе поиск по выбранным критериям
|
|