|
Наблюдение
В дополнение к возможности иссле- дования образцов размером до 10х13 мм, опциональная широкоформатная ка-мера позволяет провести автоматическое цифро- вое увеличение (до 300х) для наблюдения микропримесей размером до 30х40 мкм.
Выделение области для проведения анализа
Автоматическое распознавание при- месей и как результат, автоматичес- кая установка значения диафрагмы в точке измерения с последующим измерением спектров.
Идентификация
Программа анализа примесей про- водит идентификацию спектра в авто- матическом режиме.
Программное обеспечение
Программное обеспечение AIMsolution может использо- вать как встроенную библиотеку спектров ПО LabSolutionsIR, так и коммерчески доступные библиотеки спектров Sadtler и S.T.Japan, библиотеку примесей в водопроводной воде, библиотеку полимеров, подвергшихся термической деструкции.
ИК-микроскоп AIM-9000 оптимизирован для анализа чрезвычайно малых областей образца, благодаря высокой чувст-вительности прибора (соотношение сигнал/шум 30000:1).
Опциональный TGS-детектор в комплекте с ИК-микро- скопом позволяет проводить измерения спектров без исполь-зования жидкого азота в более широком спектраль- ном диапазоне (до 400 см-1), но с более низкой чувстви- тельностью. Стандартный МСТ-детектор в основном используется для измерения микрообразцов размерами менее 100 мкм. Переключение между стандартным МСТ и TGS-детектором осуществляется автоматически.
Широкий набор дополнительных аксессуаров (НПВО объективы с различными типами призм, объектив скользя-щего угла, алмазная ячейка, поляризаторы) делает ИК-микроскоп AIM-9000 удобной системой для проведения микроанализа различных объектов.
Области применения
- Пищевая промышленность
- Электронная промышленность
- Фармацевтическая промышленность
- Исследования микрообразцов, микровключений и микронеоднородностей
- Исследовательская деятельность
- Геологические исследования
- AIM-9000 в комплекте с призмой НПВО — готовое решение для анализа инородных материалов на поверхности электронных деталей.
- AIM-9000 в комплекте с поляризатором инфракрасного излучения — оценка поляризационных свойств и пространственной ориентации молекул в пленках.
Технические характеристики
|
