В наличии!
      Лаборатория
Предлагаем со склада в Алматы (ссылки):

 

 

Сканирующий зондовый микроскоп

Сканирующий зондовый микроскоп SPM-9700HT

Сканирующий зондовый микроскоп SPM-9700HT

    Для получения трёхмерного изображения поверхности и её физических характе-ристик

     Сканирующий зондовый микроскоп — это общий термин для микроскопов, сканирующих поверхность образцов чрезвычайно острым зондом для получения пространственного изображения или наблюдения локальных свойств при больших увеличениях. Модель SPM-9700HT демонстрирует улучшенные характеристики, более удобна в эксплуатации, чем предыдущие модели.

     Сканирующая  зондовая  микроскопия (СЗМ) — один из мощных современных методов исследования формы и локальных свойств поверхности твёрдого тела. С помощью сканирующего зондового микроскопа можно получить цифровое трёх мерное изображение атомарной решётки, живой клетки, интегральной микросхемы, структуры полимера и т.д.

C помощью сканирующего зондового микроскопа SPM-9700HT можно:

  • получать трехмерное изображение рельефа поверхности образцов металлов, полупроводников, керамики, макромолекул и биологических объектов с увеличением в несколько тысяч или миллионов раз.
  • измерять значения следующих физических свойств поверхности с пространственным разрешением в доли нанометра:
    • механических (силу трения, адгезию, жесткость, эластичность)
    • электрических (потенциал, проводимость)
    • магнитных (распределение намагниченности).

     Может  использоваться  в материаловедении, полупроводниковой промышленности, биологии, медицине, при физи-ческих и химических исследованиях.

Стандартные режимы работы сканирующего микроскопа:

  • Контактный режим
  • Режим латеральных сил
  • Динамический режим
  • Фазовый режим
  • Режим силовой модуляции
  • Силовая кривая

Опциональные режимы работы микроскопа SPM-9700HT:

  • Режим проводимости
  • Режим поверхностного потенциала (кельвин-микроскопия)
  • Магнитно-силовой режим (магнитно-силовая микроскопия)
  • Силовое картирование
  • Режим векторного сканирования
  • Режим сканирования в слое жидкости
  • Электрохимическая атомно-силовая микроскопия

Опции для расширения возможностей SPM-9700HT:

  • Оптический микроскоп с цифровой камерой
  • Волоконно-оптический осветитель
  • Блоки широко/узко-форматного и глубинного сканирования
  • Климатическая камера с нагревателем образцов, контролем температуры, влажности и газового состава атмосферы
  • Программа анализа распределения частиц по размерам

Механизм скольжения головки

Механизм скольжения головки

Высокая стабильность & Высокая производительность

     Позволяет всей оптической системе скользить как единое целое, сохраняя ее жесткость.

  • Лазер остается стабильным и освещает кантилевер даже во время замены образцов.
  • Конструкция устойчива к вибрациям, шуму, ветру и другим внешним возмущениям, так что нет необходимости в специальном кожухе.
  • Прибор включает встроенный поглотитель вибраций.

     Сравнение стабильности для различного лазерного освещения:

Сравнение стабильности для различного лазерного освещения

     Удачное решение открывает доступ к области вокруг образца при поддержании высокой жесткости всей системы

  • Можно заменять образцы без удаления держателя кантилевера.
  • К образцам есть доступ даже во время измерения.
  • Высота образца настраивается автоматически, независимо от его толщины.

Разнообразие методов визуализации 3D изображения

    1. Используйте мышь для изменения масштаба и свободного вращения изображений или изменения увеличения по оси Z. Это позволяет представлять полученные данные различными способами, подтверждая эти данные в режиме реального времени.

Разнообразие методов визуализации 3D изображения

     2. Функция текстуры

    Информация  о высоте может быть наложена на информацию о физических свойствах. Это позволяет ясно показать соотношения между двумя параметрами.

     3. Анализ профилей поперечного сечения

    В 3D изображениях можно анализировать профили сечения. Если информация о физических свойствах выражена в терминах текстуры, соответствующие профили сечения могут быть показаны и проанализированы в том же месте.

Легкость выполнения операций

     Революционный графический пользовательский интерфейс обеспечивает неограниченную поддержку операций, начи-ная от наблюдения в режиме реального времени до анализа данных в автономном режиме.

Дополнительные возможности

WET-SPM

 

WET-SPM 3

     WET-SPM = SPM-9700HT + климатическая камера

  При  добавлении  климатической камеры сканирующий зондовый микроскоп SPM-9700HT превращается в систему WET-SPM.

 

 

Программное обеспечение для исследования частиц

Программное обеспечение для исследования частиц

Технические характеристики

Режимы наблюдения Стандартная комплектация Контактный
Динамический
Отображение фазы
Латерально-силовая микроскопия (LFM)
Модуляция силы
Опции Магнитно-силовая микроскопия (MFM)
Силовая кривая
Кельвин-зондовая силовая микроскопия (KFM)
Разрешение  Оси X, Y  0,2 нм
Ось Z  0,01 нм

 Головка SPM
 
 
 Перемещение детектирующей системы    Источник света / оптический рычаг / детектор
 Источник света Лазерный диод (ВКЛ/ВЫКЛ)
Непрерывное освещение кантилевера, даже при смене образца
 Детектор  Фотодетектор (ФЭУ)
Сканер
Привод  Трубчатый пьезоэлектрический элемент
 Максимальные диапазоны сканирования (X, Y, Z) 10 µm x 10 µm x 1 µm (стандартная комплектация)
30 µm x 30 µm x 5 µm (опция)
125  µm x 125  µm x 7  µm (опция)
55 µm x  55 µm x  13 µm (опция)
2,5 µm x  2.5 µm x  0,3 µm (опция)
 
Столик для образца
 
 Максимальные размеры образца  Ø 24 мм x 8 мм
  Метод смены образца Механизм скольжения головки со встроенной системой перемещения детектора и кантилевером. Смена образца без удаления кантилевера.
 Метод фиксации образца  Магнитный зажим
 Механизм настройки по оси Z  Метод С помощью шагового двигателя, полностью автоматический, независимо от толщины образца
 Максимальный ход  10 мм
 Система изоляции вибраций  Антивибрационная система  Встроена в блок SPM
Специальный корпус   Нет необходимости, либо используется камера контроля окружающей среды.
Контроль окружающей среды   Специальная камера без какой-либо модификации микроскопа.